①压敏电压UN(U1mA):通常以在压敏电阻上通过1mA直流电流时的电压来表示其是否导通的标志电压,这个电压就称为压敏电压UN。压敏电压也常用符号U1mA表示。压敏电压的误差范围一般是±10%。在试验和实际使用中,通常把压敏电压从正常值下降10%作为压敏电阻失效的判据。
②蕞大持续工作电压UC:指压敏电阻能长期承受的蕞大交流电压(有效值)Uac或蕞大直流电压Udc。一般Uac≈0.64U1mA,Udc≈0.83U1mA。
③通流量(蕞大冲击电流)IP:指压敏电阻能够承受的8/20μs波的蕞大冲击电流峰值。“能够承受”的含义是,冲击后压敏电压的变化率不大于10%。现行的技术规格书中通常都给出了冲击1次的IP值。
④蕞大箝位电压(限制电压)VC:技术规格书中给出的蕞大箝位电压值是指给压敏电阻施加规定的8/20μs波冲击电流IX(A)时压敏电阻上呈现的电压。
⑤额定能量E:额定能量是指压敏电阻能够承受规定波形的冲击电流冲击一次的蕞大能量(冲击后压敏电压的变化率不大于10%),可用下式表示: E=K*IP*VC*T 式中:IP、VC见上,T为脉冲宽度,压敏电阻厂家,K为与波形有关的常数。对于8/20μs波和10/1000μs波,K=1.4;对于2ms方波,K=1。
⑥额定功率(蕞大平均功率)Pm:指压敏电阻在室温下,连续承受多次冲击,且各次冲击之间间隔时间较短,因而有热积累效应的情况下,能够承受的蕞大平均功率。尽管压敏电阻能承受很大的脉冲功率,但能承受的平均功率却很小。
⑦电容C0:指压敏电阻两电极间呈现的电容,在几pF~几百nF的范围内。体积越小,压敏电压越高,电容越小。
⑧漏电流Il:给压敏电阻施加蕞大直流电压Udc时流过的电流。测量漏电流时,通常给压敏电阻加上Udc=0.83U1mA的电压(有时也用0.75U1mA)。一般要求静态漏电流Il≤20μA(也有要求≤10μA的)。在实际使用中,更关心的不是静态漏电流值本身的大小,而是它的稳定性,即在冲击试验后或在高温条件下的变化率。在冲击试验后或在高温条件下其变化率不超过一倍,即认为是稳定的。
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1.半导体器件损坏的特点
三极管的损坏一般是PN结击穿或开路,其中以击穿短路居多。此外还有两种损坏表现:
一是热稳定性变差,表现为开机时正常,工作一段时间后,发生软击穿;
另一种是PN结的特性变差。
2.半导体器件的检测方法 用万用表R×1k测,各PN结均正常,但上机后不能正常工作,汕头压敏电阻,如果用R×10或R×1低量程档测,就会发现其PN结正向阻值比正常值大。测量二、三极管可以用指针万用表在路测量,较准确的方法是:将万用表置R×10或R×1档(一般用R×10档,兴勤压敏电阻,不明显时再用R×1档)在路测二、三极管的PN 结正、反向电阻,如果正向电阻不太大(相对正常值),反向电阻足够大(相对正向值),表明该PN结正常,反之就值得怀疑,需焊下后再测。这是因为一般电路的二、三极管外围电阻大多在几百、几千欧以上,用万用表低阻值档在路测量,可以基本忽略外围电阻对PN结电阻的影响。
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