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ZnO压敏电阻陶瓷的性能是压敏陶瓷中为优异的一种。近年来,由于电子设备向小型化、多功能化发展,集成电路的集成速度和密度不断提高,为了使电子线路免遭浪涌电压的破坏,在低压领域内对压敏电阻器的应用也提出了越来越高的要求,因此ZnO的低压化成为研究的热点。为了寻求一个相对合适的ZnO压敏陶瓷的低压化配方,并且将所学专业理论知识与实际相结合,经文献查阅,我们设计了添加剂的量依次适当增加的四组平行实验来进行研究。本文首先简析了ZnO压敏陶瓷材料的概念、结构、研究现状及压敏电阻的性能参数,并详细解释了其导电机理。同时对制备ZnO压敏陶瓷的基本工艺流程做了初步的了解,通过热分析的实验和老师的指导得出,烧结温度分别为1160℃、1180℃,1200℃三个温度下保温2h的烧结条件。
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压敏电阻交流作用下的老化机理
交流作用下。在正半周时,假设右侧为正极性,电压主要加在右侧的耗尽层上,使右侧的Zni向晶界迁移,而左侧所加电压很低,Zn
i向晶粒内迁移不大;在负半周,电压主要加在左侧,使左侧Zni向晶界迁移,右侧这时所加电压很低,Zni向晶粒体内迁移不大。总的结果是左右两侧的Zni都向晶界迁移。
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