东莞市源林电子科技有限公司

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老化机理：

曾经被认为是老化的起因的有电子陷阱，偶极子转向，氧脱附和离子迁移，目前能证实的只有填隙锌离子迁移。一般认为老化是晶界现象，是由于耗尽层内离子迁移，而Zni是主要的迁移离子。

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通流容量：

通流容量是指施加规定波形的冲击电流和冲击次数，冲击后压敏电压的变化小于或等于规定值时所能通过的电流。它和脉冲幅度，脉冲持续时间及应用中所要承受的脉冲次数有关，可从降额曲线中查得。测量时一般施加8*20μs或2ms的方波。

源林电子是一家专业研发、生产压敏电阻的高科技电子元器件企业。主营压敏电阻、热敏电阻和温度传感器，自有研发团队，厂家直销！

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