压敏电阻采购,就选源林电子,自有研发队伍
介电特性:
压敏电阻器类似一边界层电容器,视在介电常数很高。介电常数和介电损耗与频率,温度和所加的电压有关,在30-106°C的温度范围内,介电常数随温度升高而增大;介电常数随频率升高而下降;电容在低电场区域随所加电压的增加而降低,进入中电场区域随电压增大而急剧上升。
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氧化锌压敏电阻在交流电压作用下的老化:
当施加交流电压一定时间后,氧化锌压敏电阻的U-I特性曲线发生对称变化,除了特性曲线的变化是对称的特点外,改变的趋势与施加直流电压的趋势相近。试验时所施加的交流电压梯度为65V/mm,温度为70℃。试验还表明,不论是直流还是交流作用电压,老化试验后压敏电阻U-I 特性在预击穿区(即低电场区域)的变化程度要比击穿区即(中电场区域)大得多。
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漏电流IL
漏电流(mA)也称等待电流,是指压敏电阻器在规定的温度和直流过压敏电阻器电流。IEC对漏电流 IL较为普遍的定义是:环境温度25℃时,在压敏电阻上施加其所属规格的连续直流工作电压UDC时,流过压敏电阻的直流电流。
一般而言,在材料配方和烧结工艺固定的情况下,漏电流适中的压敏电阻具有较好的安全性和较长的寿命。
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