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压敏电阻连续工作电压寿命，即压敏电阻在规定环境和系统电压条件下应能可靠地工作规定的时间（h）。由于压敏电阻总是承受着稳态工作电压应力的作用，压敏电阻的寿命是与漏电流密切相关的。在不发生机械或其他电气性能失效的情况下，压敏电阻的寿命主要由漏电流IR（密度JR）及其温度、电压和时间的上升情况所决定。随着漏电流IR（密度JR）升高，发热量增大，若这个能量不能散失，元件的温度会很快上升，这种元件在维持一段初始稳定状态后，终将达到热失控（击穿）的温度而结束其使用寿命。

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电流温度系数与绝缘电阻：

电流温度系数

指在压敏电阻器的两端电压保持恒定时，温度改变1℃时，流过压敏电阻器电流的相对变化。

绝缘电阻指压敏电阻器的引出线(引脚)与电阻体绝缘表面之间的电阻值。

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氧化锌压敏电阻的缺陷：

ZnO压敏电阻器中的缺陷有正一价和正二价的Zni和Vo，负一价和负二价的

VZn ，正一价的DZn。VZn主要在晶界处，VZn为受主态，使晶粒表面形成一电子耗尽层而产生势垒，约0.7eV。Zni容易迁移为亚稳态，是老化产生的根源所在。DZn可降低晶粒体的电阻，提高通流容量。Vo在氧不足的ZnO-x中量很少，主要存在于晶界中。高温时原子运动加剧，在晶界中形成大量的VZn和Vo，但Vo在冷却过程中容易从空气中吸收氧而消失。

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