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压敏电阻交流作用下的老化机理

交流作用下。在正半周时，假设右侧为正极性，电压主要加在右侧的耗尽层上，使右侧的Zni向晶界迁移，而左侧所加电压很低，Zn

i向晶粒内迁移不大；在负半周，电压主要加在左侧，使左侧Zni向晶界迁移，右侧这时所加电压很低，Zni向晶粒体内迁移不大。总的结果是左右两侧的Zni都向晶界迁移。

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漏电流IL

漏电流(mA)也称等待电流，是指压敏电阻器在规定的温度和直流过压敏电阻器电流。IEC对漏电流 IL较为普遍的定义是：环境温度25℃时，在压敏电阻上施加其所属规格的连续直流工作电压UDC时，流过压敏电阻的直流电流。

一般而言，在材料配方和烧结工艺固定的情况下，漏电流适中的压敏电阻具有较好的安全性和较长的寿命。

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氧化锌压敏电阻器已广泛应用于过电压保护、浪涌吸收、过电流泄放等方面,是防护电气电子设备因受雷电闪击及其他瞬态电磁干扰造成传导过电压危害的有效器件,它的性能直接影响安全保护效果。因氧化锌压敏电阻在系统或设备运行中必然存在老化劣化现象,

故必须对其进行定期检测,以防止老化劣化产品仍工作在系统或设备中。然而,目前检测方法所判定的压敏电压U1mA和漏电流I

leakage两个参数都存在拐点效应,即只有当MOV劣化到一定程度后,U1mA和Ileakage才会出现显著变化;而在这个拐点之前U1mA和

Ileakage都符合SJ/T10349-93测试标准的要求[8],这就给检测结果带来不确定性。某个产品自身已经老化劣化到一定程度需要及时更换,但U1mA和Ileakage检测值仍然合格。

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