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氧化锌压敏电阻在交流电压作用下的老化:
当施加交流电压一定时间后,氧化锌压敏电阻的U-I特性曲线发生对称变化,除了特性曲线的变化是对称的特点外,改变的趋势与施加直流电压的趋势相近。试验时所施加的交流电压梯度为65V/mm,温度为70℃。试验还表明,不论是直流还是交流作用电压,老化试验后压敏电阻U-I 特性在预击穿区(即低电场区域)的变化程度要比击穿区即(中电场区域)大得多。
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氧化锌压敏电阻的缺陷:
ZnO压敏电阻器中的缺陷有正一价和正二价的Zni和Vo,负一价和负二价的
VZn ,正一价的DZn。VZn主要在晶界处,VZn为受主态,使晶粒表面形成一电子耗尽层而产生势垒,约0.7eV。Zni容易迁移为亚稳态,是老化产生的根源所在。DZn可降低晶粒体的电阻,提高通流容量。Vo在氧不足的ZnO-x中量很少,主要存在于晶界中。高温时原子运动加剧,在晶界中形成大量的VZn和Vo,但Vo在冷却过程中容易从空气中吸收氧而消失。
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压敏电压
压敏电压是指在电流为1mA时测得的压敏电阻器两端的电压降,它没考虑压敏电阻器的尺寸;E0.5是指在电流为0.5mA/cm2下测得的加在压敏电阻器上的电场强度;C值是指在电流为1A(也有的地方说1mA,但差别不大)时压敏电阻器两端的电压降。在n个相同的压敏电阻器串联或并联时C值的变化如下:
a)串联时电流不变,电压增大n倍,这时C值提高n倍,可利用压敏电阻器串联来提高工作电压。
V=nCI1/α=(nC)I1/α=C’I1/α
b)并联时电压不变,电流增大n倍,C值几乎不变,可利用压敏电阻器的并联来提高通流容量。
I=n(V/C)α=[V/(Cn–1/α)]α=(V/C’)α
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