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氧化锌压敏电阻因具有良好的非线性特性而成为低压电源系统和信息系统中电涌防护的主要设施。其可靠性主要取决于压敏电阻耐受电涌冲击的能力。一个性能良好的氧化锌压敏电阻在经受电涌冲击以后,其电气特性应返回到初始状态。然而在运行过程中,由于经受诸如电应力、机械应力等各种应力的作用,压敏电阻会出现性能劣化和老化现象,这就降低了压敏电阻电涌防护的能力。研究人员采用了多种测量及诊断装置来研究压敏电阻的老化机理及检测金属氧化物压敏电阻内部的状态[1~2]。一般经常采用的方法是测量直流1mA下压敏电阻两端的电压或者测量压敏电阻在一定幅值8/20电流冲击下的残压来对压敏电阻的电气性能进行分析判断。但是这些测试方法只能反映压敏电阻的整体性能,不能反映压敏电阻的老化及劣化的程度,所以无法为判断压敏电阻的性能状态提供可靠的判据。
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氧化锌压敏电阻器是一种以氧化锌为主体、添加多种金属氧化物、经典型的电子陶瓷工艺制成的多晶半导体陶瓷元件。氧化锌陶瓷是由氧化锌晶粒及晶界物质组成的,其中氧化锌晶粒中掺有施主杂质而呈N型半导体,晶界物质中含有大量金属氧化物形成大量界面态,这样每一微观单元是一个背靠背肖特基势垒,整个陶瓷就是由许多背靠背肖特基垫垒串并联的组合体。
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压敏电阻交流作用下的老化机理
交流作用下。在正半周时,假设右侧为正极性,电压主要加在右侧的耗尽层上,使右侧的Zni向晶界迁移,而左侧所加电压很低,Zn
i向晶粒内迁移不大;在负半周,电压主要加在左侧,使左侧Zni向晶界迁移,右侧这时所加电压很低,Zni向晶粒体内迁移不大。总的结果是左右两侧的Zni都向晶界迁移。
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