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压敏电阻直流作用下的老化机理

直流作用下。反偏压侧的Zni向晶界迁移，中和了部分VZn，使表面受主态密度下降，势垒降低，阻性电流增大。直流电压作用下的老化不对称，是因为测试电压极性如与老化时加的电压一致，电压主要加在正极性侧的耗尽层上，而这一侧可迁移的填隙锌离子已不多；如极性相反，则电压主要加在另一侧的耗尽层上，而这侧有大量的填隙锌离子，所以阻性电流大。

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氧化锌压敏电阻在直流电压作用下的老化：

在直流电压的作用下，氧化锌压敏电阻的U-I曲线发生不对称变化，即在施加电压一段时间后，试验时施加的电压梯度为95V/mm，温度为70℃。加压后在测量压敏电阻的U-I特性表明，在同样的电压下，流过压敏电阻的电流将增加。

不对称变化表现在：和老化试验电压极性相反的伏安特性的变化比极性一致的正方向特性右的变化要大。随所施加电压和加压时间的增加，U-I 特性曲线的改变程度也加大。

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漏电流IL

漏电流(mA)也称等待电流，是指压敏电阻器在规定的温度和直流过压敏电阻器电流。IEC对漏电流 IL较为普遍的定义是：环境温度25℃时，在压敏电阻上施加其所属规格的连续直流工作电压UDC时，流过压敏电阻的直流电流。

一般而言，在材料配方和烧结工艺固定的情况下，漏电流适中的压敏电阻具有较好的安全性和较长的寿命。

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